صفحه محصول - پاورپوینت کامل با عنوان دستگاه XRF

لینک دانلود و خرید پایین توضیحات
دسته بندی : پاورپوینت
نوع فایل : PowerPoint (..pptx) ( قابل ویرایش و آماده پرینت )
تعداد صفحه : 19 صفحه

قسمتی از متن PowerPoint (..pptx) :

مقدمه روش فلور سانس پرتو ایکس یکی از روش های آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصر، برای برخی صنایع ضروری است اما دستگاههای XRFاز نظر سرمایه گذاری ابتدایی هزینه بالایی نیاز دارند. بنابراین همه مراکز صنعتی و آزمایشگاهی توان خرید آن را ندارند. حد تشخیص (Detection Limit) دستگاه XRF درحد صدم درصد می باشد. XRFتقریبا تمامی عناصر جدول تناوبی از برلیم تا اورانیوم (البته جز گازهای نجیب) را اگر مقدار این عناصر درحد تشخیص باشد مشخص می کند. اجزای دستگاه XRF لوله پدید آورنده پرتو ایکس بلورآنالیز کننده آشکار ساز جمع کننده (collimator) اجزای دستگاه XRF لوله پدید آورنده پرتو ایکس وظیفه لوله پرتو ایکس پدید آوردن پرتوی با شدت زیاد برای برانگیختگی همه عنصرهای موجود در نمونه مجهول است. در دستگاه های مختلف XRFاز لوله های مختلفی استفاده می شود که تفاوت آنها در توان استفاده شده در لوله و نوع سیستم خنک کننده می باشد. بلور آنالیز کننده بلورفلورید سدیم (NaF) بیشترین کاربرد را در این دستگاه ها دارد زیرا این بلور توانایی شناسایی عنصرهای از پتاسیم تا اورانیوم را دارد. مواد دیگری که به عنوان بلور آنالیز کننده در دستگاه های XRFاستفاده می شود بلور ژرمانیم است که برای شناسایی عنصرهای از فسفر تا کلر به کار می رود. ترکیبات پلیمری نیز برای شناسایی عنصرهای سبک مفید ترند. امروزه در دستگاههای XRF برای پرهیز از جابجایی پیوسته بلور های آنالیز کننده آنها را بر روی یک منشور چند وجهی سوار می کنند و بدین ترتیب با چرخاندن منشور بلور مورد نظر به راحتی در برابر پرتو ایکس قرار می گیرد. اجزای دستگاه XRF اجزای دستگاه XRF